GB/T 2423標(biāo)準(zhǔn)是  試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.26-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分 試驗(yàn)方法  試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.27-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分 試驗(yàn)方法  試驗(yàn)Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.28-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分  試驗(yàn)方法  試驗(yàn)T：錫焊
GB/T 2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分  試驗(yàn)方法  試驗(yàn)XA和導(dǎo)則：在清洗劑中浸漬
GB/T 2423.31-1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 傾斜和搖擺試驗(yàn)方法
GB/T 2423.32-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ta:潤濕稱量法可焊性
GB/T 2423.33-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kca：高濃度二氧化硫試驗(yàn)
GB/T 2423.34-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度驗(yàn)合循環(huán)試驗(yàn)
GB/T 2423.35-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.36-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/BFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.37-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)L：沙塵試驗(yàn)
GB/T 2423.38-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)R：水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則
GB/T 2423.39-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ee:彈跳
GB/T 2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
GB/T 2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 風(fēng)壓試驗(yàn)方法
GB/T 2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 低溫/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)方法
GB/T 2423.43-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 振動(dòng)、沖擊和類似動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)樣品的安裝
GB/T 2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABDM：氣候順序
GB/T 2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fg:聲振
GB/T 2423.48-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ff:振動(dòng)-時(shí)間歷程法
GB/T 2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fe:振動(dòng)-正弦拍頻法
GB/T 2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)
GB/T 2423.51-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ke:流動(dòng)混合氣候腐蝕試驗(yàn)
GB/T 2423.52-2003 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)77:結(jié)構(gòu)強(qiáng)度與撞擊
GB/T 2423.53-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)XB：由手的摩擦造成標(biāo)記和印刷文字的磨損
GB/T 2423.54-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Xc：液體污染
GB/T 2423.55-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eh：錘擊試驗(yàn)
GB/T 2423.56-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fh：寬帶隨機(jī)振動(dòng)（數(shù)字控制）和導(dǎo)則
GB/T 2423.57-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ei：沖擊 沖擊響應(yīng)譜合成
GB/T 2423.101-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 傾斜和搖擺
GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合業(yè)內(nèi)最通行的一種，GB意指中國人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)，GB/T 2423意指電子電工行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，以下為試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)的組成部分：
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫（IEC60068-2-2:2007,IDT）
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫（IEC60068-2-2:2007,IDT）
GB/T 2423.3-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)（IEC60068-2-78:2001,IDT）
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db 交變濕熱（12H+12循環(huán)）（IEC60068-2-30:2005,IDT）
GB/T 2423.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊
GB/T 2423.6-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞
GB/T 2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則：傾跌與翻倒（主要用于設(shè)備型樣品）
GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落
GB/T 2423.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc：振動(dòng)（正弦）
GB/T 2423.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度
GB/T 2423.16-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J和導(dǎo)則：長霉
GB/T 2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)Kb:鹽霧
GB/T 2423.18-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)Kb:鹽霧，交變（氯化納溶液）
GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)N：溫度變化
GB/T 2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Q:密封
GB/T 2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分 試驗(yàn)Sa：模擬地面上的太陽輻射
GB/T 2423.25-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分 試驗(yàn)方法GBT2423